多普勒干涉原子力显微镜（Cypher AFMs）

Atomic Force Microscope

稿件来源：js65金沙线路总站 编辑：办公室 发布日期：2026-01-13
 
 

 

 

 

 

 

 

 

型          号：Cypher S & Cypher ES

制   造   商：Oxford Instrument Asylum Research

存 放 地 点：550栋 115

 

主要功能及特色

Asylum Research Cypher系列是全功能快速扫描原子力显微镜，兼具高速运行与高分辨率特性。其主要特色包括：

  1. 高性能与高兼容性：支持快速扫描与多种工作模式，可适配各类配件，易于获得高质量数据与高分辨率结果。

  2. 灵活的环境适应能力：Cypher S可在空气与液体环境中稳定工作；Cypher ES进一步具备完整环境控制功能，支持在高温（0–250°C）及苛刻化学条件下进行操作。

  3. 面向严苛实验的理想平台：该系列在材料科学与生命科学等领域，适用于从常规表征到复杂环境原位测试的多种应用场景。

 

主要技术指标

  1. X,Y方向的扫描范围不低于30μm，Z方向不低于5μm；X,Y轴闭环噪音不高于80pm（Adev,1Hz到1KHz带宽），能够利用闭环扫描轴实现原子级的成像；

  2. 扫描器系统高度噪音(探针接触样品表面)不高于15pm（Adev,1Hz到1KHz带宽）；

  3. 一体化的密封环境控制腔：探针夹持器与样品腔可组成全密闭式样品环境控制器，无需外接组件；内置压力传感器，实时监测环境控制腔内的压强，密闭腔体内可承受不少于30kPa的正压；环境控制腔能够耐酸、碱、溶剂、缓冲溶液和惰性气体；

  4. 可进行密闭环境下的湿度控制，湿度控制范围不低于：20%-80%RH,控制精度± 2%RH；

  5. 一体化的温度控制模块无需外接控制器或者制冷泵等，液相或气相下进行加热或制冷的样品台。变温范围0-120℃，温控精度0.1℃；

  6. 能够利用导电针尖进行导电AFM成像和I-V曲线测试；电流测试范围不低于1pA-20nA；

  7. 模块本身能直接输出（不需要外接放大器）高达150 V的测试电压，能够在高压模式下实现双频共振追踪模式、极化翻转谱压电力显微镜测试以及矢量压电力显微镜模式

 

主要附件及配置

  1. Fast Force Mapping Mode – Force-distance curve mapping mode that operatesat up to 1000 Hz pixel rate. Good for samples from 10 kPa to 100 GPa

  2. Fast Current Mapping – Mode Measures current in Fast Force Mapping Mode

  3. Standard probe holder - For most AFM modes in gas environments (standard)

  4. Conductive AFM (CAFM) Measures probe holder – DC current from 1 pA to >10 µA

  5. Ambient sample holder - Operate in gases or liquids at ambient temperature

  6. Heating and cooling sample holder- Operate in gases or Liquids at temperatures between 0–120°C

  7. Heating sample holder - Operate in gases at temperatures from ambient to 250°C

  8. Humidity sensing sample holder - Operate in gases and measure the humidity in the cell

  9. Piezoresponse Force Microscopy (PFM) – voltages (up to ±150 V) and at the tip-sample contact resonance frequency (DART Mode)

  10. Electrostatic Force Microscopy (EFM) - Measures electrostatic force gradient

  11. Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM) - Measures sample surface potential and work function\\

  12. Scanning capacitance Microscopy (SCM): Measures both permittivity and conductivity in contact or Fast Force Mapping Mode. Operates on insulating, semiconductor and conductive materials

 

用户须知

需经过培训获得操作资格后才能使用，或由已培训的人员代为测试。

设备预约链接：https://sharing.sysu.edu.cn/home/#/orderDetail?id=4043

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